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簡(jiǎn)要描述:MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動(dòng)態(tài)和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。·光柵控制,增強(qiáng)深度分析能力 ·所有能量范圍內(nèi),離子行程的小擾動(dòng),及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器
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MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動(dòng)態(tài)和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。
·光柵控制,增強(qiáng)深度分析能力 ·所有能量范圍內(nèi),離子行程的小擾動(dòng),及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 ·
?質(zhì)量數(shù)范圍: 300amu,500amu,1000amu ·檢測(cè)器: 離子計(jì)數(shù)探測(cè)器、正負(fù)離子探測(cè)器、107 cps ·質(zhì)量過濾器: 3F四級(jí)桿 ·桿直徑: 9mm ·加熱: 250℃ ·離子源: 電子轟擊,可用于SNMS和RGA的單根燈絲
MAXIM 二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動(dòng)態(tài)和中性粒子,所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面,應(yīng)用于SIMS和SNMS的光學(xué)采樣。 ·光柵控制,增強(qiáng)深度分析能力 ·所有能量范圍內(nèi),離子行程的小擾動(dòng),及恒定離子傳輸 ·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 ·質(zhì)量數(shù)范圍: 300amu,500amu,1000amu ·檢測(cè)器: 離子計(jì)數(shù)探測(cè)器、正負(fù)離子探測(cè)器、107 cps ·質(zhì)量過濾器: 3F四級(jí)桿 ·桿直徑: 9mm ·加熱: 250℃ ·離子源: 電子轟擊,可用于SNMS和RGA的單根燈絲
上一產(chǎn)品:PTR-TOF 1000 Ultra質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)質(zhì)譜儀
下一產(chǎn)品:SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
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