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薄膜導(dǎo)熱測(cè)試儀
瞬態(tài)平面熱源法
熱常數(shù)分析儀
大氣壓進(jìn)樣飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
等離子體-材料表面
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
質(zhì)子傳遞反應(yīng)質(zhì)譜
催化、吸附、熱分析
穿透曲線測(cè)試
XEMIS系列磁懸浮微量天平
Trident導(dǎo)熱儀
Trident瞬態(tài)平面熱源法
TridentHotDisk 瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱儀
APi-TOF大氣壓進(jìn)樣飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
HALO 201 MBE殘余氣體分析四極質(zhì)譜儀
PTR-TOF 6000 X2質(zhì)子傳遞反應(yīng)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
PTR-TOF 4000高分辨率質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應(yīng)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
XEM吸附分析儀器
TGA-MS熱重分析質(zhì)譜儀
HidenABR
NASE鼻腔采樣器
SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
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